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摘要:
采用标准CMOS工艺设计出PDP(Plasma Display Panel)选址芯片,重点设计出一种高压结构-HV-CMOS(High Voltage CMOS)结构,采用单阱非外延工艺以降低生产难度和成本,实现了高低压之间的兼容.同时采用TSUPREM-4对该结构进行工艺模拟、并用MEDICI分析其电流-电压和击穿等特性,说明该结构可以满足设计要求.
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文献信息
篇名 等离子平板显示选址芯片设计
来源期刊 电路与系统学报 学科 工学
关键词 等离子平板显示 高压CMOS 高/低压兼容 CMOS工艺
年,卷(期) 2003,(5) 所属期刊栏目 短文
研究方向 页码范围 123-126
页数 4页 分类号 TN710|TN432
字数 2952字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-0249.2003.05.027
五维指标
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2006(1)
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研究主题发展历程
节点文献
等离子平板显示
高压CMOS
高/低压兼容
CMOS工艺
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电路与系统学报
双月刊
1007-0249
44-1392/TN
16开
广东省广州市
1996
chi
出版文献量(篇)
2090
总下载数(次)
5
总被引数(次)
21491
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