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摘要:
介绍了采用虚拟测试技术实现的可配置的电子电路测试系统的设计.系统采用开放式层状构架.同层之间的变更和替换不影响其他各层.系统的可扩充性为针对不同系统的应用提供了灵活的配置方式.文中还对实现电子电路故障定位的方法进行了研讨.
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文献信息
篇名 电子电路虚拟测试技术支撑系统设计
来源期刊 现代雷达 学科 工学
关键词 电子电路 虚拟测试 故障定位
年,卷(期) 2003,(8) 所属期刊栏目 总体工程
研究方向 页码范围 17-19
页数 3页 分类号 TN95
字数 3604字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-7859.2003.08.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 卢黄丽 4 16 3.0 4.0
2 吴刚 17 48 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子电路
虚拟测试
故障定位
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代雷达
月刊
1004-7859
32-1353/TN
大16开
南京3918信箱110分箱
28-288
1979
chi
出版文献量(篇)
5197
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19
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32760
论文1v1指导