基于DDS的频率特性测试仪

• 作者: 操长茂
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 幅频特性 相频特性 单片机 DDS
• 年，卷（期）: 2003,（12）
• 所属期刊栏目: 封装与测试技术
• 页码范围: 44-46
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 1248字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2003.12.013

摘要

介绍了基于DDS设计的频率特性测试仪,整个系统以单片机为控制核心,实现了对被测网络频率特性的测量,用液晶显示器LCD显示幅频特性和相频特性曲线,同时还可打印频响曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	操长茂	江汉大学物理与信息工程学院	13	34	4.0	5.0