纯铜双辉等离子体渗镍层形成及扩散机理分析

• 作者: 徐重 池承忠 苏永安 袁庆龙
• 来源期刊: 金属热处理
• 学科: 工学
• 关键词: 纯铜 双层辉光放电 渗镍 扩散系数
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 表面改性技术
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TG174.445
• 字数: 1683字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-6051.2003.11.013

摘要

采用双层辉光离子渗金属技术实现了在纯铜表面的渗镍,对渗层中镍元素的分布进行了测定,用扩散偶方法计算了铜镍等温互扩散系数,并对在辉光放电中影响扩散系数的因素进行了讨论.结果表明,纯铜双层辉光离子渗镍是一个先吸附沉积再扩散的过程,利用扩散偶方法求得的等温互扩散系数随试验温度及表面镍浓度的提高而增大.只要合理选择放电条件下的各工艺参数,便可以有效控制渗层中的镍含量及分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐重	太原理工大学表面工程研究所	161	2461	24.0	39.0
2	袁庆龙	太原理工大学表面工程研究所	33	385	11.0	18.0
3	苏永安	太原理工大学表面工程研究所	21	217	10.0	14.0
4	池承忠	太原理工大学表面工程研究所	5	28	3.0	5.0