大麦BYDV抗性的印迹杂交分析

• 作者: 刘征 张东旭 李润植 毛雪 焦芳婵 赵彦宏
• 来源期刊: 作物学报
• 关键词: 大麦 大麦黄矮病毒 蚜虫 Yd2基因 抗性检测 斑点印迹杂交
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 315-320
• 页数: 6页
• 分类号: S512
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0496-3490.2003.02.028

摘要

大麦抗黄矮病毒(BYDV)育种面临的主要困难之一, 就是常规生物学抗性检测技术不能准确地进行抗性检测和抗性基因筛选. 本文在前人的基础上, 以大麦黄矮病毒PAV株系和RPV株系基因组中的特异核酸序列为探针, 应用斑点印迹杂交分析技术, 建立了一套简单、快速、有效的BYDV抗性检测方法和抗性基因(Yd2)的筛选方法; 同时也建立了一套适用于大麦BYDV抗性检测的较为有效的带毒蚜虫饲养和管理方法. 选用了12个已知抗性和基因型的大麦品种(系)进行抗性检测, 结果证实了这一抗性检测技术体系的可靠性与有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东旭	浙江师范大学生命科学院	6	51	4.0	6.0