大面积高温超导薄膜临界温度无损伤测试

• 作者: 何明 周铁戈 方兰 赵新杰 路荣涛 阎少林 马永昌
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 页码范围: 151-154
• 页数: 4页
• 分类号: TM26
• 字数: 1637字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2003.z1.033

摘要

我们设计并制作了高温超导薄膜无损伤超导转变温度Tc测试系统, 可以在直径2英寸范围内同时测量13个位置上的Tc.测试过程中可以用图形或数字监视薄膜的超导转变,方便可靠.系统采用液氮制冷,测试速度快,测量误差约±0.2K.对于直径2英寸或小于2英寸薄膜的Tc,本系统是一套实用可靠的测量设备.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周铁戈	南开大学电子科学系	44	100	5.0	7.0
2	赵新杰	南开大学电子科学系	52	116	6.0	7.0
3	方兰	南开大学电子科学系	47	115	6.0	6.0
4	阎少林	南开大学电子科学系	53	137	6.0	7.0
5	何明	南开大学电子科学系	43	86	5.0	6.0
6	马永昌	南开大学电子科学系	3	7	2.0	2.0
7	路荣涛	南开大学电子科学系	6	10	2.0	3.0