跳源法在ADS中子学研究中的应用

• 作者: 史永谦 夏普 朱国盛 朱庆福 李义国 郑伍钦
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 跳源法 ADS 有效增殖系数 252Cf中子源
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 反应堆工程
• 页码范围: 246-249
• 页数: 4页
• 分类号: TL375.51|TL411.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2003.03.013

摘要

简要介绍了跳源法在ADS中子学研究中测量次临界度的原理、外源驱动的次临界中子学的实验装置、堆芯布置及中子源驱动系统.主要研究了252Cf中子源在堆芯不同轴向位置、模拟质子束管和散裂中子靶件处不同缓冲区材料对keff的影响.实验结果与其它实验方法的结果进行了比较,符合较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱庆福	中国原子能科学研究院反应堆工程研究设计所	62	165	7.0	11.0
2	夏普	中国原子能科学研究院反应堆工程研究设计所	22	149	6.0	11.0
3	李义国	中国原子能科学研究院反应堆工程研究设计所	32	137	6.0	11.0
4	史永谦	中国原子能科学研究院反应堆工程研究设计所	39	374	8.0	18.0
5	朱国盛	中国原子能科学研究院反应堆工程研究设计所	5	29	2.0	5.0
6	郑伍钦	中国原子能科学研究院反应堆工程研究设计所	6	30	2.0	5.0