基于关键面积的冗余集成电路成品率分析

• 作者: 段旭朝 赵天绪 郝跃 马佩军
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 关键面积 故障 成品率 缺陷
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 544-549
• 页数: 6页
• 分类号: TN43
• 字数: 4397字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.05.019

摘要

利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率,并给出了其计算模型.实例模拟表明,与传统的成品率分析方法相比,该模型预测IC成品率具有更高的精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郝跃	西安电子科技大学微电子所	312	1866	17.0	25.0
2	马佩军	西安电子科技大学微电子所	34	163	8.0	10.0
3	赵天绪	西安电子科技大学微电子所	23	88	6.0	8.0
7	段旭朝	宝鸡文理学院计算与信息研究所	23	58	4.0	6.0