考虑溅射和碰撞损失的j×B离子引出收集

• 作者: 朱红莲 王德武
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 离子收集 j×B驱动法 碰撞 溅射 收集率
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 467-470
• 页数: 4页
• 分类号: O562.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2003.05.019

摘要

研究了j×B法离子引出收集过程.影响引出过程收集率的两个主要因素是碰撞和溅射.对引出过程中收集板的收集情况进行了数值模拟,给出了收集板电参数对引出时间、碰撞与溅射的影响.收集板电参数对引出时间和收集率有很大影响,电流js及其变化率的增加对离子引出是有利的.总收集率随等离子体密度增大而减小.收集板间距对引出的影响较为复杂,增大极板间距,且限制准直孔径,引出效果得以改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王德武	清华大学工程物理系	36	126	6.0	8.0
2	朱红莲	清华大学工程物理系	7	22	2.0	4.0