XRD法测定沸石分子筛中硅铝比

• 作者: 丛玉凤 储刚 黄玮
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线衍射 NaY分子筛 固体NMR 硅铝比
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 452-454
• 页数: 3页
• 分类号: O434.14|O657.2
• 字数: 1926字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2003.03.039

摘要

用X射线衍射外推函数法测定NaY超稳分子筛的晶胞参数,用29Si、27Al固体NMR方法测定分子筛骨架中的硅铝比,提出了NaY超稳分子筛硅铝比与晶胞参数关联的经验公式.通过测定分子筛的晶胞参数即可得到NaY超稳分子筛的硅铝比.该方法测得的NaY超稳分子筛硅铝比,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好.