铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线及应用的实验探讨

• 作者: 刘海宽 李月卿 王昌元
• 来源期刊: 泰山医学院学报
• 学科: 医学
• 关键词: 胶片特性曲线 显微密度计 铝楔 铝梯
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: R812
• 字数: 1312字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7115.2003.01.014

摘要

目的利用铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线.方法分别对铝楔、铝梯进行单倍和双倍曝光,将所得到铝楔、铝梯照片的单倍曝光部分和双倍曝光部分,用显微密度计分别进行扫描,把所得数据用计算机编程处理,得到胶片特性曲线,并计算出γ值;将两种方法所测结果相比较.结果铝楔双倍曝光法可以测试得到连续的胶片特性曲线,曲线的足部和直线部显示较好;用该方法测出的γ值与铝梯双倍曝光法所测结果的差别在允许范围之内;两种方法测试所得曲线的形状相似.结论铝楔双倍曝光法可以作为一种胶片特性曲线测试方法;铝楔双倍曝光法与铝梯双倍曝光法相比,所测曲线更连续,这对于程序化测试屏-片MTF曲线、Ws时的线性转换过程非常有利.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李月卿	泰山医学院放射系	32	255	8.0	15.0
2	王昌元	泰山医学院放射系	40	246	7.0	14.0
3	刘海宽	泰山医学院放射系	1	2	1.0	1.0