【正】 Y2002-63302-101 0302670超薄 MOS 电容器的退火效应=Annealing effects on ul-trathin MOS capacitors[会,英]/Ng,A.C.-H.& Xu,J.//2001 IEEE Hong Kong Electron Devices Meet-ing.—101~105(E)Y2002-63333-2244 0302671纳米电机系统中纳米级电磁机械的模拟、分析和控制=Modeling,analysis,and control of nanoscale electro-magnetic machines in nanoelectromechanical systems[会,英]/Lyshevski,S.E.& Lyshevsk,M.A.//Proceed-ings of the 2001 American Control Conference Vol.3 of6.—2244~2248(HE)0302672RF-MEMS 电感三维衬底耦合的扩展 PEEC 法分析[刊]/龙海波//电子学报.—2002,30(9).—1308~1312(C) Y2002-63302-101 0302670超薄 MOS 电容器的退火效应=Annealing effects on ul-trathin MOS capacitors[会,英]/Ng,A.C.-H.& Xu,J.//2001 IEEE Hong Kong Electron Devices Meet-ing.—101~105(E)Y2002-63333-2244 0302671纳米电机系统中纳米级电磁机械的模拟、分析和控制=Modeling,analysis,and control of nanoscale electro-magnetic machines in nanoelectromechanical systems[会,英]/Lyshevski,S.E.& Lyshevski,M.A.//Proceed-ings of the 2001 American Control Conference Vol.3 of6.—2244~2248(HE)0302672RF-MEMS 电感三维衬底耦合的扩展 PEEC 法分析[刊]/龙海波//电子学报.—2002,30(9).—1308~1312(C)0302673基于超程时间减小速率建模的电磁继电器可靠性寿命分析方法的研究[刊]/翟国富//电子器件.—2002,25(3).—301~304(L)电磁继电器触点的磨损和老化是影响继电器可靠性的重要因素之一。超程时间的减小是电磁继电器触点磨损和老化的主要表现形式。本文提出以超程时间减小速率为随机变量,建立了电磁继电器可靠性寿命分析数学模型,给出了寿命可靠度计算方法。实例计算结果表明,该模型是有效的。参6一种使用平面线圈结构的微型电磁继电器[刊]/张宇峰//电子器件.—2002,25(3).—214~219(L)本文介绍一种采用平面线圈结构的微型电磁继电器的制造工艺和理论分析。这种继电器