机载测控系统BIT设计中关键技术研究

• 作者: 张小林
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 机载测控系统 BIT 测试
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 2720字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2003.11.010

摘要

BIT(built in test)作为系统测试和故障诊断与隔离的一种新技术,在航空电子设备可靠性与可维护性设计中日益受到重视.以机载测控系统为例,从故障树与故障方程建立、测试点选择、测试信号提取与产生、故障判别准则确定、防误警设计、BIT软件设计等方面介绍了BIT设计中的关键技术.结果表明:所采用的关键技术切实可行,提高了系统可靠性和对故障的应变能力,同时也为系统调试及维护提供了极大的方便.该方法也可应用于其他智能仪表及工业控制计算机等系统的设计中.