ESD破坏的特点及对策

• 作者: 孙宇华 王卫民
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 静电放电 电磁兼容
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容技术与应用
• 页码范围: 24-26,38
• 页数: 4页
• 分类号: TN97
• 字数: 3195字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2003.05.006

摘要

针对电子产品受到ESD威胁日益严重的现状,本文通过详细论述ESD破坏的特点,揭示了静电作为隐蔽的"杀手",其突发的伤害、潜在的威胁、复杂的成因使电子产业蒙受了巨大的损失,提出了综合运用均压、接地、泄流、屏蔽和箝位等技术,并辅之以一套行之有效的培训、管理制度和操作程序,构成一个完整的静电防护体系的思想,将静电这个当今电子工业中的"恐怖分子"拒之门外.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙宇华		3	15	2.0	3.0
2	王卫民		4	14	1.0	3.0