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摘要:
介绍用X射线衍射方法进行纳米材料鉴定的原理和方法, 对谢乐公式的推导作了较为详细的说明. 为了验证该公式计算结果的正确与否, 用透射电镜观测法作了直接对比.
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文献信息
篇名 纳米材料晶粒鉴定方法的研究
来源期刊 福州大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 X射线 纳米材料 晶粒大小
年,卷(期) 2003,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 49-51
页数 3页 分类号 O722
字数 1056字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-2243.2003.01.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴万国 福州大学中心实验室 15 119 5.0 10.0
2 黄清明 福州大学中心实验室 33 248 9.0 15.0
3 丁音琴 福州大学化肥催化剂国家工程研究中心 7 66 4.0 7.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
X射线
纳米材料
晶粒大小
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
福州大学学报(自然科学版)
双月刊
1000-2243
35-1117/N
大16开
福建省福州市大学新区学园路2号
34-27
1961
chi
出版文献量(篇)
4219
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6
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24665
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