ESD EMP对RAM的辐照效应及加固方法研究

• 作者: 侯民胜 许明辉
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: ESD EMP RAM 辐照实验 效应 加固
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 分类号: O441.4|X837
• 字数: 2305字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2003.10.018

摘要

静电放电产生的电磁脉冲(ESD EMP)有上升沿陡、频带宽和峰值大等特点,对电子系统的干扰和破坏很大.为考察ESD EMP对电子系统的影响,对单片机系统进行了ESD EMP辐照效应实验,着重研究了单片机的外部数据存贮器RAM在其作用下的各种效应.在效应实验基础上研究了RAM的加固方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯民胜		47	317	11.0	15.0
2	许明辉		4	5	2.0	2.0