一种新型测试生成电路的设计

• 来源期刊: 传感器世界
• 学科: 工学
• 关键词: 错误覆盖 实验时钟 生成电路
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 页码范围: 24-27
• 页数: 4页
• 分类号: TN702
• 语种: 中文

摘要

使用d兼容为基础的宽压缩,设计了一种用于混合式机内自动测试的新型测试生成电路.这种测试电路具有每个时钟循环都对电路进行测试的特点,特别适合于自动计数的设计和自测结构.