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光刻版数据处理中的工艺涨缩问题
光刻版数据处理中的工艺涨缩问题
作者:
曹庄琪
粟鹏义
陈开盛
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
光刻版
光刻
电子设计自动化
集成电路
摘要:
介绍了集成电路行业中在光刻版数据处理时的工艺涨缩问题,分别讨论了正涨缩和负涨缩问题,涨缩与反转处理的次序问题,尤其对位于版图边沿图形的涨缩进行了详细的讨论,并且提出了一种电子设计自动化软件的解决方案和实际结果.
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文献信息
篇名
光刻版数据处理中的工艺涨缩问题
来源期刊
半导体技术
学科
工学
关键词
光刻版
光刻
电子设计自动化
集成电路
年,卷(期)
2003,(7)
所属期刊栏目
集成电路制造技术
研究方向
页码范围
20-22,37
页数
4页
分类号
TN305
字数
2860字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-353X.2003.07.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
曹庄琪
56
224
8.0
11.0
2
粟鹏义
5
4
1.0
2.0
3
陈开盛
5
4
1.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
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节点文献
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同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
2003(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
光刻版
光刻
电子设计自动化
集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄179信箱46分箱
邮发代号:
18-65
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
24788
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