摘要:
目的以平板集落形成试验等方法观察人脑胶质瘤SHG-44细胞的辐射敏感特性,并比较细胞存活曲线拟合的回归效果.方法设实验组和对照组,实验组的吸收剂量分别为0.5,1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,12和13 Gy 14个剂量点,每点设6个平行样本.以60Co γ射线照射,吸收剂量率为2.0 Gy/min,实验重复3次,数据取平均值.结果 SHG-44细胞的SF2为86.96%,D-2为17.85 Gy,其他辐射敏感性指标D\-0、D\-q、α/β分别为3.20,2.35和16.98 Gy.该细胞存活曲线低剂量区存在一个较窄的"肩段",其倾斜度并非陡峭(1/D\-0=0.32).吸收剂量>10 Gy存活率下降较为明显.筛选配比试验分析3H-TdR掺入法的灵敏度为88.5%、特异度为90.0%,但其漏判率和误判率较高均为10%左右.MTT比色法灵敏度为94.2%,但其特异度较差为75.0%,误判率高达25.0%.结论人脑胶质瘤SHG-44细胞具有一定程度的辐射抗性.CFA方法准确、稳定性较好,并且由其拟合的细胞存活曲线效果较佳(Q=0.007,F=4.56,P<0.01).