商周原始瓷的EDXRF无损分析

• 作者: Mike Li 周广明 朱剑 梁宝瑬 樊昌生 毛振伟 王昌燧
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 能量色散X射线荧光光谱 原始瓷 无损检测
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 页码范围: 671-675
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2465字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2003.05.008

摘要

采用能量色散X射线荧光(EDXRF) 经验系数法,对江西吴城遗址出土的商代原始瓷残片中主、次量元素含量进行了无损测试,根据仪器提供的强度校正方程, 用已知成分的陶瓷标准参考物求出校正系数,进行基体校正,所得结果与前人的研究工作颇为吻合.该法能满足考古样品分析的要求,特别适用于古陶瓷样品的无损检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱剑	中国科学技术大学科技史与科技考古系	19	171	9.0	12.0
2	王昌燧	中国科学技术大学科技史与科技考古系	171	1678	20.0	26.0
3	毛振伟	中国科学技术大学科技史与科技考古系	45	420	13.0	16.0
4	樊昌生		13	91	6.0	9.0
5	周广明		13	68	4.0	8.0
6	梁宝瑬	香港城市大学物理与材料科学系	1	7	1.0	1.0
7	Mike Li	香港城市大学物理与材料科学系	1	7	1.0	1.0