CMOS集成电路静电损害及防护措施

• 作者: 王玲 赵新民
• 来源期刊: 机电工程技术
• 学科: 工学
• 关键词: 静电损害 接地 集成电路 静电消除
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 设计与应用
• 页码范围: 81-82
• 页数: 2页
• 分类号: TN43
• 字数: 1868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9492.2003.05.031

摘要

从静电产生的机理和影响因素出发,阐明了静电的危害性,并提出了防止静电损害的措施.结果表明:CMOS集成电路的寿命显著提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵新民	湖南师范大学物理与信息科学学院	21	86	6.0	8.0
2	王玲	湖南师范大学物理与信息科学学院	93	523	12.0	18.0