Z衬度扫描透射电子显微术的前沿进展

• 作者: 束开俊 林晓 高利 高鸿钧
• 来源期刊: 物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 扫描透射电子显微术(STEM) Z衬度成像 原子分辨 成分分析
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 613-617
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 4354字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0379-4148.2003.09.011

摘要

文章介绍了Z衬度扫描透射电子显微术 (Z-scanning transmission electron microscopy,Z-STEM,Z为原子序数)的最新进展:Z-STEM可以直接"观察"到晶体中原子的真实位置,Z衬度图像的分辨率在经过球差校正后可达0.6;在利用Z衬度成像技术对材料的阴极荧光(cathodoluminescence,CL)性质的研究中,首次观察到了"死层"(dead layer)的存在.然后,文章以半导体与结晶氧化物界面结构、Al72Ni20Co8十角形准晶结构以及SrTiO3晶界结构为例,具体介绍了Z衬度成像在测定物质结构与化学组成方面独特的优势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高鸿钧	中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室	44	262	10.0	14.0
2	束开俊	安徽中医学院物理系	6	1	1.0	1.0
4	林晓	中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室	19	127	6.0	11.0
5	高利	中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室	4	15	2.0	3.0