轻材料检验自动化评片技术

• 作者: 何文艳
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线照相检验法 材料检测 自动评片软件系统 VC 指标参数
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 205-206
• 页数: 2页
• 分类号: TP274.51

摘要

轻材料技术条件要求检验零件内部夹杂，检验手段采用X射线照相检验法，其中底片的评定是由检验人员在观片灯下人工评定，评定结果易受人为因素影响。为提高评片效率和可靠性，研发了—套轻材料自动评片软件系统。该系统基于Windows 2000平台，以VC为开发语言，结合图像处理技术对底片的多项评定指标进行评判。实践表明，该系统界面友好、易于操作，具有良好的评片效果。