模型和X线颅颌侧位片测量磨牙远移值的对比分析

• 作者: 刘汝平 段银钟
• 来源期刊: 实用口腔医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 磨牙远移 模型分析:头影测量分析
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: R783.5
• 字数: 2680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3733.2003.01.021

摘要

目的:研究推上颌第一磨牙远移后,其结果在模型和X线颅颌侧位定位片中的测量值有无差异.方法:对10例安氏Ⅱ亚类错畸形患者的磨牙水平向远移结果进行对比分析,平均治疗时间101 d,两种方法的最终测量值作统计学t检验处理.结果:模型和X片显示:上颌第一磨牙远移量(3.71±1.47)mm和(3.78±2.02)mm(P＞0.05);下颌磨牙近移量(0.80±0.56)mm和(0.99±0.63)mm(P＞0.05).结论:模型和X线颅颌侧位定位片对磨牙水平向移动量的测量分析值相近,无统计学意义上的差别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段银钟	西安第四军医大学口腔医学院正畸科	34	318	11.0	16.0
2	刘汝平		1	11	1.0	1.0