双极型半导体电路静电损伤失效分析

• 作者: 张延伟 林晨崧
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 失效分析 模拟器件 静电放电
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 所属期刊栏目: 控制系统与电子元器件
• 页码范围: 172-173
• 页数: 2页
• 分类号: TN304.0
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2003.z1.054

摘要

从通信设备维修中发现的一例静电放电(ESD)导致模拟电路失效的典型案例分析入手,介绍了在失效分析中把管脚间测试结果同电路内部版图和逻辑图相结合来定位失效部位的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张延伟	中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心	24	105	6.0	9.0
2	林晨崧		1	0	0.0	0.0