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摘要:
介绍了一种具有纳米级测量灵敏度的非接触光探针平整度仪,其分辨率优于1nm.这种测试仪在电子玻璃、半导体、集成电路、薄膜和纳米技术等领域都具有很大的应用前景.给出了该平整度仪在液晶显示器中液晶分子取向膜边缘表面轮廓形状研究方面的一些测试结果.结果表明,该平整度仪可以在液晶显示器件研究中发挥作用.
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文献信息
篇名 液晶显示器中液晶分子取向膜边缘的轮廓
来源期刊 光学技术 学科 工学
关键词 非接触 光探针 平整度 液晶显示器 取向层
年,卷(期) 2003,(2) 所属期刊栏目 光学测量
研究方向 页码范围 183-184,187
页数 3页 分类号 TN247|TN873
字数 2258字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-1582.2003.02.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 范志新 河北工业大学应用物理系 80 693 13.0 23.0
2 孙玉宝 河北工业大学应用物理系 49 133 6.0 8.0
3 潘良玉 河北工业大学应用物理系 6 38 2.0 6.0
4 李志广 河北工业大学应用物理系 28 138 6.0 10.0
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研究主题发展历程
节点文献
非接触
光探针
平整度
液晶显示器
取向层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
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6
总被引数(次)
42622
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