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摘要:
提出一种CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理.分析表明MOSFET工作于强反型区的栅感应噪声比工作于亚阈值区明显,但当施加在栅极电压达到3V时,随着ω/ωT比值的增加,MOSFET工作于亚阈值区的栅感应噪声比工作于强反型区明显.同时详细分析了有源像素(APS)中的RESET晶体管的栅感应噪声的影响并提出抑制栅感应噪声的电路.
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文献信息
篇名 CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理及分析
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 栅感应噪声 像素MOSFET 改进的APS CMOS图像传感器
年,卷(期) 2003,(9) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 921-926
页数 6页 分类号 TN386
字数 2539字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.09.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 仇玉林 中国科学院微电子中心 54 383 10.0 17.0
2 陈杰 中国科学院微电子中心 247 3126 30.0 49.0
3 金湘亮 中国科学院微电子中心 14 209 6.0 14.0
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研究主题发展历程
节点文献
栅感应噪声
像素MOSFET
改进的APS
CMOS图像传感器
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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