小型X射线荧光光谱仪快速分析萤石的成分

• 作者: 杨旗风 白晓华
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 粉末压片 萤石
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 344-346
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 847字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2003.03.008

摘要

本文以粉末压片法制样,小型多道QX荧光光谱仪测定萤石中的SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO,方法的准确度高、精密度较好,分析误差能满足化学分析方法的要求,可完全代替化学分析法.对一个萤石样品的全分析只需30min.方法快速、简便,结果令人满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨旗风	洛阳玻璃股份有限公司技术部	9	46	4.0	6.0
2	白晓华	洛阳玻璃股份有限公司技术部	4	21	3.0	4.0