基于遗传算法的故障诊断的研究

• 作者: 姚文俊
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 遗传算法 故障诊断 并行搜索 全局搜索
• 年，卷（期）: 2003,（23）
• 所属期刊栏目: 仿真与测试
• 页码范围: 85-87
• 页数: 3页
• 分类号: TP18
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2003.23.029

摘要

介绍了遗传算法在故障诊断中的应用,显示出将遗传算法应用于故障诊断可减少运算量、缩短平均诊断时间、提高诊断效率和故障识别精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚文俊	华中科技大学电子与信息工程学院	4	19	2.0	4.0