常用芯片检测的设计与实现

• 作者: 白小平 高雁
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 检测 芯片 数据比较 单片机
• 年，卷（期）: 2003,（18）
• 所属期刊栏目: 高校配置
• 页码范围: 40-41
• 页数: 2页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2003.18.015

摘要

介绍了一种常用芯片检测系统的设计方案与实现.其优点是简单实用、操作方便、可以迅速地检测出芯片的工作是否正常.文中阐述了系统的设计思路,同时也给出了相应的原理框图和程序流程图.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白小平	西安电子科技大学机电工程学院	7	16	2.0	3.0
2	高雁	西安电子科技大学机电工程学院	1	1	1.0	1.0