高频MnZn功率铁氧体烧结工艺研究

• 作者: 余忠 兰中文 张益栋 王京梅 王豪才
• 来源期刊: 材料导报
• 学科: 工学
• 关键词: 高频 功率铁氧体 烧结条件 损耗 密度
• 年，卷（期）: 2003,（12）
• 所属期刊栏目: 材料研究
• 页码范围: 80-82
• 页数: 3页
• 分类号: TM28
• 字数: 1863字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-023X.2003.12.023

摘要

按照氧化物陶瓷工艺对高频MnZn功率铁氧体烧结工艺条件进行了研究.烧结温度越高,晶粒越大,晶界越薄,电阻率越低,磁芯损耗越大,起始磁导率和烧结密度分别在1240℃和1230℃达到最大值.延长保温时间,可以使晶粒充分生长,晶界变薄,电阻率减小,损耗增大.保温3 h后,起始磁导率和烧结密度均可达到最大值.氧分压越低,材料起始磁导率越高,电阻率越小,损耗越大,但氧分压低于5%后烧结密度不再继续增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王京梅	电子科技大学微电子与固体电子学院	36	480	9.0	21.0
2	兰中文	电子科技大学微电子与固体电子学院	111	1184	19.0	29.0
3	余忠	电子科技大学微电子与固体电子学院	78	842	16.0	26.0
4	王豪才	电子科技大学微电子与固体电子学院	53	681	13.0	24.0
5	张益栋	电子科技大学微电子与固体电子学院	4	96	3.0	4.0