单模光纤中弯曲损耗的测试与分析

• 作者: 李新碗 殷宗敏 游善红 郝素君
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单模光纤 弯曲损耗 耦合 振荡 弯曲半径 波长
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 波导与集成光学
• 页码范围: 409-412
• 页数: 4页
• 分类号: TN252
• 字数: 2427字
• 语种: 中文

摘要

对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径(1～8 mm)和波长(1530～1565 nm)变化的实验进行了测试,结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波长呈现振荡.理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在包层以及涂覆层中传播的Whispering-gallery模式之间的耦合,引起了弯曲损耗的振荡,理论分析结果和实验结果基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷宗敏	上海交通大学光纤技术研究所	37	223	8.0	12.0
2	李新碗	上海交通大学光纤技术研究所	55	281	8.0	14.0
3	郝素君	上海交通大学光纤技术研究所	9	54	3.0	7.0
4	游善红	上海交通大学光纤技术研究所	7	59	3.0	7.0