一种脉冲电容器绝缘的无损检测方法

• 作者: 于成龙 何承基 姚永和
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲电容器 绝缘性能 无损检测 介质损耗 热效应
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 291-293
• 页数: 3页
• 分类号: TM531.2

摘要

对脉冲电容器绝缘的检测，常用的耐压试验或测量介质损耗方法都不足以全面真实地反映绝缘状况。前者属破坏性试验，由于脉冲电容器本身的工作场强很高，绝缘裕度较小，因此高于工作电压的耐压试验很容易导致正常的电容器因绝缘击穿而损坏，且不能反映绝缘状况的渐进式劣化。介质损耗虽然也反映了绝缘微观上的变化，但主要反映了材料内的热效应；对于脉冲电容器而言，由于其不连续工作和有效工作时间短，由介质损耗导致的发热很小，因而对绝缘的损害可以忽略。