用于零中频器件的新测试方法

• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2003,（12）
• 所属期刊栏目: 封装与测试技术
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TN92
• 字数: 2611字
• 语种: 中文

摘要

不断提高的集成度在无线设计中的普及,要求必须开发新的测试方法以应对由此带来的测试挑战.本文将讨论使用误差矢量幅度(EVM)和其它测试方法量测系统性能以达到既减少测试时间又降低复杂度的目的,同时还提供一个强有力的解决方案,用于完整的量测器件射频性能.