高速高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用

• 作者: 余丽霞 刘昱欣 周文超 虞鹤松
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 高速高性能 C8051F020单片机 露点测试系统 SOC
• 年，卷（期）: 2003,（12）
• 所属期刊栏目: 仿真与测试
• 页码范围: 65-67
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2003.12.026

摘要

通过单片机应用于露点测试系统中存在的缺陷,引入了美国Cygnal公司新近在国内推出的C8051F020单片机,并对该单片机的功能和特点进行了应用性探讨,提出了在露点测试系统中采用C8051F020单片机的可行性方案,通过比较显示:该方案具有更高的性价比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞鹤松		23	138	7.0	10.0
2	余丽霞		7	46	4.0	6.0
3	刘昱欣		5	30	3.0	5.0
4	周文超		4	21	3.0	4.0