横向点间耦合对双量子点Aharonov-Bohm结构输运性质的影响

• 作者: 刘伟 李树深 杨富华 江兆潭 游建强 郑厚植
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 量子点 AB效应 点间耦合
• 年，卷（期）: 2003,（z1）
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TN301.1
• 字数: 3499字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2003.z1.008

摘要

文中所研究的结构Aharonov-Bohm(AB)是由两个耦合的量子点和与它们相耦合的源和漏组成,利用修正速率方程研究了横向点间耦合对AB结构输运性质的影响.结果表明:点间耦合将引起电子占据几率在系统初始阶段的瞬时性振荡,而从源流向漏的电流单调地衰减到一个稳定值.点间耦合把AB环分成两个相互耦合的子环,这将破坏通常以2π为周期的AB振荡,产生一种新的复杂的振荡,其周期随着通过两个子环的磁通比的变化而变化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘伟	中国科学院半导体研究所超晶格与微结构国家重点实验室	422	5903	37.0	59.0
2	李树深	中国科学院半导体研究所超晶格与微结构国家重点实验室	20	78	5.0	8.0
3	杨富华	中国科学院半导体研究所超晶格与微结构国家重点实验室	49	227	9.0	14.0
4	郑厚植		11	126	2.0	11.0
10	江兆潭	中国科学院半导体研究所超晶格与微结构国家重点实验室	2	0	0.0	0.0
11	游建强	中国科学院半导体研究所超晶格与微结构国家重点实验室	2	0	0.0	0.0