单分子力谱

• 作者: 张希 张文科 王驰
• 来源期刊: 科学通报
• 学科: 化学
• 关键词: 单分子力谱 AFM 纳米技术 超分子结构
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 评述
• 页码范围: 1113-1126
• 页数: 14页
• 分类号: O6
• 字数: 11330字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0023-074X.2003.11.002

摘要

基于原子力显微镜技术的单分子力谱是研究高分子体系中的分子内与分子间相互作用,进而揭示其超分子结构的本质及动态过程的一种新型纳米表征技术.结合我们近期的研究工作,概述了单分子力谱的工作原理及单分子拉伸的判断标准,讨论了单分子力学谱与超分子结构、高分子界面吸附形态与力谱形状、分子间特异性相互作用的直接测量等,并对该领域的未来发展作了展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张希	吉林大学超分子结构与材料教育部重点实验室	15	370	7.0	15.0
2	张文科	吉林大学超分子结构与材料教育部重点实验室	10	58	4.0	7.0
3	王驰	吉林大学超分子结构与材料教育部重点实验室	3	24	1.0	3.0