自动控制、自动控制设备及系统

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 控制系统 系统参数 纹理分析 图象处理 电容传感器 会议录 分布式监控系统 模糊控制器 工业控制 集中监控系统
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 115-119
• 页数: 5页
• 分类号: TP273

摘要

【正】 SPIE-Vol.4188 0306542SPIE 会议录,卷4188:自动控制中的过程成象=Pro-ceedings of SPIE.Vol.4188:Process imaging for auto-matic control[会,英]/SPIE-The International Society forOptical Engineering.—310P.(E)本会议录收集了在美国波士顿召开的自动控制中的过程成象会议上发表的31篇论文,内容涉及过程成象与图象处理的工业应用,图象纹理分析,二维控制系统,计算机自动辐射粒子跟踪,X 射线断层分析,电阻层析成象,微成象电容传感器。