超深亚微米设计中串扰的影响及避免

• 作者: 曹瑾
• 来源期刊: 电子工程师
• 学科: 工学
• 关键词: 串扰 布线 关键路径 超深亚微米
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 微电子与基础产品
• 页码范围: 59-60
• 页数: 2页
• 分类号: TN4
• 字数: 3107字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-4888.2003.02.023

摘要

分析了在超深亚微米阶段,串扰对高性能芯片设计的影响,介绍了消除串扰影响的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹瑾	同济大学电信学院	7	80	5.0	7.0