空心箔式电抗器高频损耗的计算分析

• 作者: 励庆孚 李群峰
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 箔式电抗器 耦合电路 张量法 高频损耗
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 长江学者论坛
• 页码范围: 804-807
• 页数: 4页
• 分类号: TM554
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-987X.2003.08.008

摘要

提出了一种新的等效耦合电路模型,该模型可用于计算分析空心箔式电抗器的阻抗和损耗等参数.采用张量法,成功解决了大规模方程组的求解问题.分析了电力电子中常见频率范围(20～100 kHz)内空心箔式电抗器的高频损耗问题,并研究了箔的电导率对线圈的交流有效电阻和直流电阻之比的影响. 通过样机的对比分析,证实了本文方法的有效性,从而为空心箔式电抗器的设计计算奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	励庆孚	西安交通大学电气工程学院	77	2139	26.0	45.0
2	李群峰	西安交通大学电气工程学院	6	85	3.0	6.0