通用厚膜电路自动测试系统的开发与应用

• 作者: 杜菊 闫茂德
• 来源期刊: 电子设计应用
• 学科: 工学
• 关键词: 厚膜电路 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 自控与测量
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 2104字
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了通用厚膜电路自动测试系统的开发技术和实际应用,主要包括系统的组成、特点、工作原理、软硬件设计及测试过程的实现等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜菊	深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所	2	13	1.0	2.0
2	闫茂德	深圳市中兴通讯股份有限公司西安研究所	2	13	1.0	2.0