XRF聚酯薄膜-薄纸法测定铀铌合金的铌量

• 作者: 吴伦强 杨明太 杨锁龙 高戈 齐红莲
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 化学
• 关键词: XRF聚酯薄膜 薄纸法 铀铌合金 铌 X射线荧光分析仪
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 338
• 页数: 1页
• 分类号: O614.512

摘要

选用U3O8(纯度99．9％)和Nb(纯度99．96％)做基准物质，HF+HCl溶解基准物质，配制七个铌含量为1％～8％的U-Nb标准溶液(每个样品中U+Nb,总量15～20mg)，将其加热、浓缩至约0．5mL，分别滴加于粘贴在聚脂薄膜上的餐巾薄纸(φ20)上，置于红外灯下缓慢烘干，待测。将制备完毕的聚脂薄膜-薄纸标样平整地放于能量色散X射线荧光分析仪的样品盘上，测得各聚脂薄膜-薄纸标样中ULα和NbKα能峰的净强度。采用最小二乘法对标样中铌、铀的含量比与相应的特征X射线强度比进行线性拟合，