成像X射线光电子能谱定量分析研究

• 作者: 刘芬 赵良仲 邱丽美
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 成像X射线光电子能谱 定量分析
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 1082-1084
• 页数: 3页
• 分类号: O65
• 字数: 2014字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2003.09.015

摘要

探索了直接用实验测得的XPS图像强度来做元素或化学态相对定量分析的可能性.以AgCl和Na2S2O3样品为例,实验结果表明:XPS图像强度与成像时间有良好的线性关系,根据图像强度对两种元素或化学态进行相对定量是可能的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵良仲	中国科学院化学研究所	23	210	6.0	14.0
2	刘芬	中国科学院化学研究所	35	278	8.0	15.0
3	邱丽美	中国科学院化学研究所	13	190	6.0	13.0