应用虚拟仪器(VI)技术开发集成电电路闩锁测试系统

• 作者: 钟征宇
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: Ⅵ 虚拟仪器 闩锁 1atch-up 测试
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性与分析
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.08.024

摘要

闩锁(1atch-up)效应严重影响了CMOS集成电路的可靠性,如何对其进行快速有效地测试是很有必要的.本文主要介绍了代表了当今世界测试仪器技术发展方向的虚拟仪器技术(Ⅵ)及其在开发集成电路闩锁测试系统过程中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟征宇	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	2	3	1.0	1.0