铍焊件残余应力X射线断层扫描测定法

• 作者: 周上祺 陈玉安
• 来源期刊: 重庆大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: X射线应力分析 残余应力 X射线衍射 断层扫描
• 年，卷（期）: 2003,（6）
• 页码范围: 63-65,69
• 页数: 4页
• 分类号: TG115
• 字数: 2386字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-582X.2003.06.018

摘要

铍是广泛应用于核能、航空和航天工业的稀有轻金属,作为结构材料,因加工过程而引入的残余应力对其制品的使用将带来不良影响,测定残余应力的大小具有重要的意义.针对传统X射线残余应力检测技术,提出了X射线断层扫描测定法.该方法利用现有仪器,通过改变测定技术和计算方法,可以无损测定铍等轻金属制品表面残余应力及沿层深的分布.采用这一新方法计算了弧形铍焊件焊缝附近表面、距表面0.5 mm和1.0 mm处的残余应力,同时还计算出铍无应力(103)晶面的面间距d0,结果与根据晶面间距公式计算出的铍(103)晶面的面间距吻合较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周上祺	重庆大学材料科学与工程学院	85	912	16.0	27.0
2	陈玉安	重庆大学材料科学与工程学院	33	431	10.0	20.0