频率选择性衰落信道中MC-CDMA信号检测技术

• 作者: 谈振辉 陈霞
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: MC-CDMA 多址干扰 检测
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 627-630
• 页数: 4页
• 分类号: TN929.533
• 字数: 4378字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2003.04.036

摘要

正交多载波码分多址(MC-CDMA)是近年无线宽带通信研究的热点.本文介绍了MC-CDMA信号检测技术,在分析频率选择性衰落信道中单小区MC-CDMA系统上/下行多址干扰(MAI)的基础上,指出上行接收引入多用户检测技术(MuD)的必要性和可能性,并通过与直接序列(DS)CDMA的对照和对偶性分析,讨论了MC-CDMA MuD的发展方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈霞	北方交通大学现代通信研究所	4	92	2.0	4.0
2	谈振辉	北方交通大学现代通信研究所	56	453	9.0	21.0