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摘要:
在对EMI电源滤波器插入损耗进行分析的基础上,介绍了一种用屏蔽室环境对滤波器插入损耗进行测试的方法.并对已有的滤波器进行测试与分析,指出了I/O端电磁耦合对EMI滤波器插入损耗的重大影响及屏蔽测试的良好效果.
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文献信息
篇名 EMI电源滤波器屏蔽测试技术
来源期刊 电工技术 学科 工学
关键词 EMI 滤波器 插入损耗 屏蔽 接地
年,卷(期) 2003,(3) 所属期刊栏目 中低压电器
研究方向 页码范围 43-44
页数 2页 分类号 TN713
字数 2184字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-1388.2003.03.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王小军 西安电子科技大学机电工程学院 6 24 2.0 4.0
2 鬲莉 西安电子科技大学机电工程学院 6 24 2.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
EMI
滤波器
插入损耗
屏蔽
接地
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电工技术
半月刊
1002-1388
50-1072/TM
32开
重庆市渝北区洪湖西路18号
78-61
1980
chi
出版文献量(篇)
12910
总下载数(次)
32
总被引数(次)
16080
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