铁损测试仪的校准方法之研究(一)

• 作者: 叶芬斌 浅井博文 罗进 陈志明
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 铁损 测试 铁损测试仪的校准
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 测试技术与应用
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.10.006

摘要

对单片硅钢片的铁损测试是硅钢片的生产和使用厂家如电机/变压器等产品质量的一项重要评价项目.本文就单片硅钢片铁损测试仪及其校准方法,从理论和实际应用两方面探讨了如何在不利用标准铁板对铁损测试仪进行校准的可行性,为铁损仪生产和使用厂家的设备校准提出了可靠的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶芬斌		5	10	2.0	3.0
2	浅井博文		3	7	1.0	2.0
3	陈志明		2	7	1.0	2.0
4	罗进		2	7	1.0	2.0