电子元器件静电放电敏感度(ESDS)检测

• 作者: 来萍 邝贤军 钟征宇
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电子元器件 静电放电敏感度 检测和分析
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 可靠性与分析
• 页码范围: 58-60
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.09.023

摘要

静电放电敏感度(ESDS)是电子元器件的重要可靠性参数之一.本文从检测目的、标准波形、检测标准及委托程序几个方面阐述了ESDS的检测方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来萍	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	3	3	1.0	1.0
2	钟征宇	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	2	3	1.0	1.0
3	邝贤军	中国赛宝实验室可靠性研究分析中心	1	2	1.0	1.0