影响器械进入上颌磨牙近颊根第二根管的因素

• 作者: 凌均棨 彭思敏 高燕
• 来源期刊: 新医学
• 关键词: 根管显微镜 上颌磨牙 近颊根第二根管 髓腔钙化物 牙髓病学
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 294-295
• 页数: 2页
• 分类号: R78
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-9802.2003.05.011

摘要

目的:分析影响器械进入上颌磨牙近颊根第二根管的因素和评价根管显微镜定位离体上颌磨牙近颊根第二根管的能力.方法:①收集离体上颌第一、二磨牙共550颗;②在常规和根管显微镜辅助下分别探查近颊根管,记录近颊根第二根管检出率和影响器械进入该根管的因素.结果:①常规和根管显微镜条件下近颊根第二根管检出率在上颌第一磨牙分别为51.8%(112/216)和78.2%(169/216);第二磨牙分别为23.7%(79/334)和41.3%(138/334).使用根管显微镜可明显提高近颊根第二根管的检出率,P<0.01;②影响器械进入近颊根第二根管的主要因素有近中壁牙本质悬突、牙本质碎屑和髓腔弥漫性钙化物或髓石等.结论:根管显微镜辅助下可有效去除阻碍器械进入近颊根第二根管的因素,提高其检出率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	凌均棨	中山大学附属口腔医院牙体牙髓科	193	1563	21.0	27.0
2	高燕	中山大学附属口腔医院牙体牙髓科	28	290	11.0	16.0
3	彭思敏	中山大学附属口腔医院牙体牙髓科	5	50	2.0	5.0